发表时间：2024-02-03 09:42:09 │ 点击数：
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东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售，技术培训，信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务，自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来，公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师，能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下：1.日本东京光电子（TOE）激光镭射测径仪。2.日本尼康（Nikon）工业测量仪器：投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计，3.日本三丰(Mitutoyo)系列：三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列：表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密（ACCRETECH）表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠（Rational）万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业，我们不但為客户提供优质的仪器设备，还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
上海屹持光电技术有限公司是一家专业从事太赫兹、超快激光、传统激光等领域相关产品的研发、引进、销售、方案设计、组装集成、技术服务的现代高科技企业。团队成员具有专业光电背景和长期从业经验，利用自身的专业优势将最先进的科研设备及服务提供给用户。从单个产品到整体解决方案，从商务服务到技术支持，均获得了广大用户的肯定和信赖。 公司理念：专业严谨、诚信共赢、屹于光电、持之以恒。主营产品：太赫兹：太赫兹时域光谱仪、强太赫兹产生器、光导天线、碲化锌晶体、DAST/OH1/DSTMS晶体、雪崩二极管、返波管、量子级联激光器、高莱探测器、太赫兹功率计、太赫兹相机、太赫兹探针、亚太赫兹相机、线性相机、太赫兹扫描法布里-珀罗干涉仪、太赫兹观察卡、太赫兹镜片、太赫兹系统方案等超快激光：飞秒光纤激光器、飞秒振荡器、飞秒放大器、超快同步系统、皮秒光纤激光器、半导体皮秒激光器、扫描自相关仪、单次自相关仪、三阶自相关仪、超短脉冲测量仪、可饱和吸收器件、超快激光芯片等传统激光：气体激光器、固体激光器、半导体激光器、光纤激光器、窄线宽激光器、激光驱动白光光源、功率计、光谱仪、单色仪、分光光度计、红外相机、单光子探测器、激光波长计、光束质量分析仪、波长计官方网站：
公司成立于2010 年，专业代理欧美（美国、加拿大、德国、英国、瑞士等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括：光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等；激光检测产品：激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等；其他产品：集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等；显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，相关指标达到国际先进水平。
Cinogy光束质量分析仪—角度响应校准：应用于大角度发散角的激光光束测量1.1应用范围有不同种类的应用需要考虑角度响应。这些应用大多使用(非常)发散的光束。在这种情况下，我们在一幅图像中有连续的入射角范围。照相机的灵敏度取决于激光束的入射角，这是由过滤器和传感器造成的。1.2角度线过滤器这里，我们将只考虑吸收滤波器。如果光束没有垂直入射到滤光器上，则通过滤光器的路径较长。较长的路径导致较强的吸收，因此相机(滤光片和传感器)的响应较低。与过滤器相关的效果是各向同性的。但是，如果滤光器相对于传感器倾斜(取决于相机型号)，则会在滤光器倾斜的方向上产生各向异性。入射角αin的线性透射可以用数学方法描述，如果透射指数为垂直光束T0和折射率n已知。因为对吸收性滤光片来说，T0与波长有很大的线性关系，与入射角度有关的相对透射率Trel也与波长密切相关。1.4传感器角度响应取决于传感器技术、传感器类型、波长和微透镜。通常它不是各向同性的。图1:KAI-16070对单色光(未知波长)的角度线性灵敏度。参考:KAI-16070的数据表图2CMX4000白光的角度线性灵敏度如这些示例所示，对于不同类型的传感器，角度响应可能完全不同。因为这种效应还取决于波长和单个传感器(每个传感器表现出稍微不同的行为)，取决于波长的校准是必要的。两个传感器都显示出各向异性。为了考虑校准中的各向异性，需要比仅在x和y方向上更复杂的测量。2涂层通过一种特殊的涂层，我们可以消除(主要是抑制)传感器本身的角度产生。剩余的影响角度的灵敏度是由滤波器引起的。这产生了以下主要优点:1）剩余的角度响应是各向同性的，这意味着它不再取决于入射角的方位角。2）剩下的角度响应的校正系数更小，因此更不容易出错。下面的图表显示了CinCamcmosNano1.001在940nm下的两个角度响应测量值，前面有CMV4000传感器和OD8吸收滤光片。第1张图表中的摄像机采用默认设置，没有特殊涂层。图3:CMV4000传感器在x(蓝色)和y(橙色)方向的角度响应，前面有OD8吸收滤光片，在940nm处测量。上半部分显示相对角度响应，下半部分显示测量点和蕞佳拟合曲线之间的相对偏差。第二张图中的相机是用特殊涂层制作的。图4:CMV4000传感器在x(蓝色)和y(橙色)方向的角度响应，该传感器具有特殊涂层，前面有OD8吸收滤光片，在940纳米处测量。上半部分显示相对角度响应，下半部分显示测量点和蕞佳拟合曲线之间的相对偏差。这里，角度响应是各向同性的、平滑的，对于大角度，下降效应不太明显。CinCamCMOSNanoPlus-X针对传感器和外壳正面之间的极短距离进行了优化。这使得入射角度高达65°时的角度响应测量成为可能。3角度响应的拟合函数拟合函数是Zernike2多项式，其中入射角的正弦用于半径。这些多项式为入射角的任意方向提供了x和y方向的简单插值。用这种方法，我们可以用少量的系数描述高达±60度的测量结果。4均匀性由于生产原因，涂层并不在任何地方都具有完全相同的厚度。这导致照相机灵敏度的不均匀性增加。这个缺点通过进一步的均匀性校准来补偿。图5:940纳米无涂层传感器(紫色)和均匀性校准后(绿色)的相对灵敏度。5精度整体精度取决于以下几点:1）拟合精度。2）角度响应的各向同性。3）垂直光束位置(x，y)的精度。4）顶点到传感器的光学距离的精度(z)。5）蕞大角度下的角度响应下降。通过特殊的涂层，我们可以提高拟合精度和角响应的各向同性。此外，大角度灵敏度的相对下降要弱得多。6RayCi中的校正要求为了根据角度响应校正图像数据，必须满足以下要求：1）角度响应校准数据必须可用于每个波长。该数据由蕞佳拟合的Zernike多项式系数组成。2）为了生成从每个像素到相应入射角的映射，必须知道光束垂直的x和y传感器位置。3）需要传感器和激光焦点位置之间的光学距离。4）CINOGYTechnologies提供外壳和传感器之间的光学距离作为额外的校准数据。5）外壳和焦点之间的距离必须由用户提供。6）软件版本必须是RayCi2.5.7或更高版本。昊量光电提供的德国Cinogy公司生产的大口径光束分析仪，相机采用CMOS传感器，其中大口径的CMOS相机可达30mm，像素达到惊人的19Mpixel。是各种大光斑激光器、线形激光器光束、发散角较大的远场激光测量的必不可少的工具。此外CinCam大口径光束分析仪通用的C/F-Mount接口设计，使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。超过24mm通光孔径的大口径光束分析仪CinCamCMOS-3501和CinCamCMOS-3502更是标配功能齐全的RayCi-Standard/Pro分析软件，该软件可用于光束实时监测、测量激光光斑尺寸、质心位置、椭圆度、相对功率测量（归一化数据）、二维/三维能量分布（光强分布）、光束指向稳定性（质心抖动）、功率稳定性（绘制功率波动曲线）、发散角测量等，支持测量数据导出，测试报告PDF格式文档导出等。主要特点：1、芯片尺寸大，可达36mm2、精度高，单像元尺寸可达4.6um3、支持C/C++,C#,Labview,Java语言等多种语言二次开发主要技术指标：RToption:CMOS/ccd-xxx-RT：响应波长范围：320~1150nmUVoption:CMOS/CCD-xxx-UV：响应波长范围：150nm~1150nmCMOS/CCD-xxx-OM：响应波长范围：240nm~1150nmIRoption:CMOS-xxx-IR：响应波长范围：400~1150nm+1470nm~1605nm关于昊量光电昊量光电您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造!为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！
如今，激光器已经广泛应用于通信、焊接和切割、增材制造、分析仪器、航空航天、军事国防以 及医疗等领域。激光的光束质量无论对于激光器制造客户还是激光器使用客户都是重要的核心指标之 一。许多客户依赖激光器的出厂报告，从而忽略了对于激光器光束质量测试的重要性，往往在后面激 光器使用过程中达不到理想的效果。通过下方的对比图可以看出，同样的功率情况下（100W），如果焦点产生微小的漂移，对于材 料加工处的功率密度足足变化了 72 倍！所以，激光器仅仅测试功率或能量是远远不够的。对于激光光束质量的定期检测，如激光光斑尺寸大小、能量分布、发散角、激光光束的峰值中心、几何中心、高斯拟合度、指向稳定性等等，都是非常必要的。我公司对于激光光束质量的测试有着丰富且**的经验，对于不同波长、不同功率、不同光斑大小的激光器都可以提供具有针对性的测试系统和方案。相机式光束分析仪相机式光束分析仪采用二维阵列光电传感器，直接将辐照在传感器上的光斑分布转换成图像，传输至电脑并进行分析。相机式光斑分析仪是目前使用*多的光斑分析仪，可以测试连续激光、脉冲激光、单个脉冲激光，可实时监控激光光斑的变化。完整的光束分析系统由三部分构成：（1）相机针对用户激光波长以及光斑大小不同的测量需求，SPIRICON 公司推出了如下几类面阵相机：● 硅基 CMOS 相机通常为 190nm ~ 1100nm；● InGaAs 面阵相机通常为 900 ~ 1700nm；● 热释电面阵相机则可覆盖13 ~ 355nm 及 1.06 ~ 3000μm。相机的芯片尺寸决定了能够测量的光斑的*大尺寸，而像素尺寸则决定了能够测量的*小光斑尺寸；通常需要 10 个像素体现一个光斑完整的信息。相机型号SP932ULT665SP504S波长范围190-1100nm340-1100nm芯片尺寸7.1×5.3mm12.5×10mm23×23mm像.大.3.45x3.45μm4.54×4.54μm4.5x4.5μm分.率2048x15362752×21925120×5120相机型号 XC-130 Pyrocam III HR Pyrocam IV波长范围900-1700nm13-355nm&1.06-3000µ m13-355nm&1.06-3000µ m芯片尺寸9.6*7.6mm12.8mm×12.8mm25.6mm×25.6mm像元大小30*30um75µ m×75µ m75µ m×75µ m分辨率320*256160×160320×320灵敏度64nw/pixel(CW)0.5nJ/pixel(Pulsed)64nw/pixel(CW) 0.5nJ/pixel(Pulsed)饱和度1.3 μW/.0W/cm2(25Hz)4.5W/cm2（50Hz））3.0W/cm2(25Hz)4.5W/cm2（50Hz））（2）光束分析软件Spiricon 光斑分析软件BeamGage 界面人性化，操作便捷， 功能强大，其Ultra CAL**逐点背景扣除技术，可将测量环境中的杂散背景光完全扣除掉，使得测量结果真实，得到更精准的ISO 认证标准的光斑数据（详情见 ISO 11146-3-2004）。（3）附件针对用户的特殊要求或者激光的特殊参数设定，SPIRICON 公司推出了一系列光束分析仪的附件，如：分光器、衰减器、衰减器组、扩/缩束镜、宽光束成像仪、紫外转换模块等等。对于微米量级的光斑，传统面阵相机受到像素的制约，无法成像或者无法显示完整的光斑信息。我们有两类光束分析仪可供选择。狭缝扫描光束分析仪NanoScan 2s 系列狭缝扫描式光束分析仪，源自2010 年加入OPHIR 集团的PHOTON INC。PHOTON INC 自 1984 年开始研发生产扫描式光束分析仪，在光通讯、LD/LED 测试等领域享有盛名。扫描式与相机式光斑分析仪的互补联合使得OPHIR 可提供完备的光束分析解决方案。扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。扫描式光束分析仪的优点 :● 取样尺度可以到微米量级，远小于 CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；● 采用单点探测器，适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段；● 适应弱光和强光分析；扫描式光束分析仪的缺点 :● 多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；● 不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备独特的优势。自研自产的焦斑分析仪系统及附件STD 型焦斑分析系统● 功率密度 / 能量密度较大，NA 小于 0.05（约 3°），且焦点之前可利用距离大于 100mm，应当考虑使用本型号。● L 型焦班分析系统的标准版，采用双楔，镜头在双楔之间。● 综合考虑了整体空间利用率、对镜头的保护等因素。● 可进一步升级成为双楔在前的型号，以应对特别大的功率密度 /● 能量密度。● 合适用户 : 科研和工业的传统激光用户，高功率高能量激光用户， 超长焦透镜用户，小 NA 客户。02 型焦班分析系统● 功率密度 / 能量密度较小，或 / 和 NA 大于 0.05（约 3°），或 / 和焦点之前可利用距离小于100mm，应当考虑使用本型号。● 比 STD 更好调节；物镜更容易打坏。● L 型焦班分析系统，采用双楔，镜头在双楔之前。如遇弱光，可定制将双楔换为双反射镜。● 02 型机架不用匹配镜头尺寸，通用，可按需选择镜头。● 非常方便对焦。● 合适用户 : 使用小于 100mm 透镜甚至显微镜头做物镜的用户（表面精密加工）；LD/ LED+ 微透镜的生产线做质检附件STA-C 系列 可堆叠 C 口衰减器&bull 18mm 大通光孔径。&bull 输入端为 C-Mount 内螺纹，输出端为 C-Mount 外螺纹。&bull 镜片有 1°倾角，因而可以堆叠使用。&bull 标称使用波段 350-1100nm。VAM-C-BB VAM-C-UV1 可切换式衰减模组&bull 18mm 通光孔径。&bull 标准品提供两组四片可推拉式切换的中性密度滤光片。&bull 用于需要快速改变衰减率的测量过程。&bull BB 表示宽波段，即 400-1100nm，提供 1+2、3+4 两组四片中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350-400nm，提供 0.1+0.2、0.3+0.7 两组四片中性密度滤光片镜组。LS-V1 单楔激光采样模组&bull 20mm 大通光孔径。&bull 内置单片 JGS1 熔石英楔形镜采样片，易于拆卸和更换的楔形镜架。&bull 标称使用波段 190-1100nm。其他波段可定制。&bull 633nm 处 P 光采样率 0.6701%；S 光采样率 8.1858%。&bull 355nm 处 P 光采样率 0.7433%；S 光采样率 8.6216%。&bull 前端配模组母接口；后端配模组公接口及 C-Mount 外螺纹接口。DLS-BB 双楔激光采样模组&bull 15mm 通光孔径，体积紧凑。&bull 内置两片互相垂直的 JGS1 熔石英楔形镜采样片，无需考虑偏振方向。&bull 标称使用波段 190-1100nm，其他波段可定制。&bull 633nm 处采样率 0.05485%。&bull 355nm 处采样率 0.06408%。&bull 后端可配 C-Mount 外螺纹接口。SAM-BB-V1 SAM-UV1-V1 采样衰减模组&bull 20mm 大通光孔径。&bull BB 表示宽波段，即 400-1100nm，提供四个插槽和 0.3、0.7、1、2、3、4 六组中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350-400nm，提供四个插槽和 0.1、0.2、0.3、0.7、1、2 六组中性密度滤光片镜组。&bull 前端配模组母接口；后端配 C-Mount 外螺纹接口。DSAM-BB DSAM-UV1 双楔采样衰减模组&bull 15mm 通光孔径，体积紧凑。&bull 内置两片互相垂直的 JGS1 熔石英楔形镜采样片，633nm 处采样率 0.05485%；无需考虑偏振方向。&bull BB 表示宽波段，即 400——1100nm，提供四个插槽和 0.3、0.7、1、2、3、4 六组中性密度滤光片镜组。&bull UV1 表示紫外波段，即 350——400nm，提供四个插槽和 0.1、0.2、0.3、0.7、1、2 六组中性密度滤光片镜组。&bull 后端配 C-Mount 外螺纹接口对于大功率激光器客户，如增材制造应用以及光纤激光器客户，我们还有专门的光束分析仪系统BeamCheck 和 BeamPeek 集成 CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。BeamCheck 可持续测量不大于600W 的增材加工激光，BeamPeek 体积更为小巧，可测量*大1000W 的增材加工激光不大于2 分钟，然后自然冷却后进行下一轮测试。型号BeamCheck BeamPeek波长范围1060-1080nm532nm 1030-1080nm功率测试范围0.1-600W10-1000W可持续测试性持续测试光斑大小37µ m-3.5mm34.5µ m-2mm焦长范围200-400mm150-800mmOPHIR 的 BeamWatch 非接触式轮廓分析仪通过测量瑞利散射，捕获和分析波长范围为 980nm - 1080nm 的高功率工业激光。该分析仪包括全穿透光束测量技术、无运动部件、轻便紧凑型设计等特征，非常适合于高功率工业激光进行分析。主要参数 BeamWatch波长范围980-1080nm最小功率密度2MW/cm2最小焦斑大小55µ m最大入射口径12.5mm束腰宽度准确度±5%束腰位置准确度±125µ m焦点漂移准确度±50µ m接口方式GigE Ethernet仪器尺寸406.4mm×76.2mm×79.4mm
LDV/PDPA、PIV及V3V原理、系统构成与典型应用LDV/PDPA与PIV硬件安装、调试与维护LDV/PDPA与PIV软件参数设置与使用实验（加湿器与磁力搅拌器涡流实验）激光流体测量技术在消防与发动机喷嘴，汽车外形，飞机机翼，搅拌槽桨片，大型水坝等机械设计与制造，和湍流、边界层等复杂流动的研究中具有越来越重要的作用。TSI公司是专业的流体测量仪器生产供应商。从1984年进入中国，目前已经成为中国市场占有率最高的流体测量仪器厂家。为了提高用户的应用水平，TSI公司特举办此次研讨会，将系统的介绍LDV/PDPA、PIV及V3V原理、构成及应用，还将进行硬件及软件的实际操作培训。相位多普勒粒子分析仪(LDV/PDPA)是单点、非接触式、高精度与高响应频率的测量工具，利用流体中运动微粒散射光的多普勒频率与相位变化来获得流体一维至三维速度与微粒粒径信息。粒子图像测速仪(PIV)通过对比分析一定时间间隔连续拍摄的两张示踪粒子的图像，获得流场中一平面上两维或三维的速度场。体三维速度场仪(V3V)，将激光流场测量技术带入了一个全新的层面，能在真实的流体立方体积内测量完整的体三维速度场。会议安排2011年6月21日上午：理论培训及讨论：原理及系统构成介绍、系统各部件介绍与典型应用下午：硬件操作培训：LDV/PDPA（激光器安装及激光准直、分光器与耦合器安装、发散接收探头光斑重合度检验及校正、粒径测量探头安装）；PIV（激光器操作、相机操作与系统标定）2011年6月22日上午：软件操作培训：LDV/PDPA（Flowsizer）、PIV（Insight3G）软件参数设置及基本操作下午：实验：加湿器喷雾及磁力搅拌器会议地点北京市蟹岛绿色生态农庄(蟹岛度假村)电线地点：北京市朝阳区蟹岛路1号(首都机场辅路中段南侧)签到时间：6月20日中午后交通：北京市内用户可乘641路公交车直达蟹岛度假村东门，或乘10号线路到达；乘飞机到达的用户可从首都机场乘出租车直接前往机场辅路中段南侧蟹岛路1号的蟹岛度假村。
LBIC 激光光束诱导电流成像系统是卓立汉光公司开发的用于测量光电材料的光电响应信号、表征材料光电性质的光电系统。 该系统是基于激光光束诱导电流的测试原理，将光电材料对于光信号响应的不均匀性以可量化且可视化的方式显示出来。通过该系统，可以研究例如太阳能电池光生电流的不均匀性，探索光电器件量子效率与器件电阻的分布特性，研究器件吸收与电荷生成的微区特性，以及光电材料界面、半导体结区的品质分布等。整个系统包括光源部分、显微部分、位移台部分、电控电测部分和软件部分。 激光光束诱导电流成像系统LBIC系统特点： 高精度空间分辨率 灵活选择多种激发光源 高倍聚焦激发光斑 精密自动化电动位移台 光源、显微、监视光路一体化设计 激光光束诱导电流成像系统LBIC技术规格：系统名称LBIC激光光束诱导电流成像系统激发光源多种高稳定性连续激光器激光功率0-30mW连续可调聚焦光斑大小小于50um 光源功率稳定性1% 系统测量重复性2% 显微系统X10、X20倍显微物镜监视部分130W像素工业相机可测量样品面积100mm X 100mm 位移空间分辨率0.625um 工作温度范围10-35摄氏度标准探测器中国计量院标定的Si或InGaAs标准探测器激光光束诱导电流成像系统LBIC测试示例： 硅探测器对于405nm诱导激光量子效率空间分布图， 图示空间分辨率为50um。 某硅探测器的405nm激光光束诱导电流空间分布图， 图示空间分辨率为50um。
Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片）激光光束分析仪,激光光斑分析仪,M2分析仪,光束质量分析仪,相机式光束质量分析仪,狭缝扫描式光束分析仪,M方测量仪
Focus Monitor光束质量分析仪，基于机械式探针扫描原理，对大功率聚焦激光的光束质量进行测量，通过集成电子控制Z坐标轴实现对聚焦光束束腰的全自动测量，广泛应用于科研及工业加工领域。其最显著的特点是可以无损耗的对高功率聚焦光束的原始质量参数进行详细的测量和分析，可用来监测激光器出光质量，保证加工的精确度，同时还可以对光束系统及激光器的故障做及时的自检测，大幅度节约维修的时间成本，并且可增加光束系统的使用寿命。
激光的功率是了解激光系统是否正常工作的重要指标，因此定期对焊接头输出的激光功率进行测量是确保焊接工艺稳定性和一致性的重要方法。
西林瓶是一种常见的药品包装形式，作为制药行业中不可或缺的一部分，药用玻璃瓶广泛应用于药品的生产和储存。作为常用的药品包装材料，对于确保药品质量和安全至关重要。而西林瓶壁厚底厚测量仪则是确保西林瓶制品质量符合标准的重要质检工具。
ML4515 M2激光光束质量分析仪1秒内的M2激光光束质量分析仪是用于测量连续及脉冲激光光束质量参数M2的。它运用高分辨率数字摄像头精确的测定激光光束直径。 beamlux II高级软件包里新M2模块评测出M2为± 3%精度。为预调整产品且易于匹配。当高测量率 5Hz时，激光的测试，调整及优化都可在线进行。规格CW-扫描测量激光线的整套系统CW扫描系统包括beamlux II CW扫描软件，ML3743摄像头，ML8010电机控制器及一个线焦点监测器适用于高功率密度激光光束及激光光斑FM 100焦点监测器是一个小型光束质量分析仪系统，它由标准ML3743摄像头，ML1201 beamlux II 高级软件及高功率衰减器组成。可高精度地评估高达100W的激光光束及激光光斑。中性密度滤光镜可轻易的变换，以便降低功率来适应CCD摄像头的标准（滤光轮可选）。放大率在5x, 10x, 20x的近场透镜适用于Nd Yag和准分子激光器。特点高功率激光器适用高功率密度激光光斑适用紧凑型装置中性密度滤光镜可互换高放大倍数及高数值孔径的近场透镜规格
室内空气质量测量仪SM70配件是室内质量全天候监测仪器，它可以及时监测到臭氧和挥发性有机化合物。 室内空气质量测量仪SM70配件可以通过液晶显示器显示参数并具有超标报警声，可控制输出0-5V和继电器。室内空气质量测量仪SM70配件特点室内空气质量测量仪SM70配件应用液晶显示屏报警或控制模式多路输出（模拟，串口，继电器）主动抽样精度更高电源监测和控制气体环境温度健康和安全的措施挥发性有机化合物排放测量室内空气的质量控制臭氧发生器编号说明SM70 监视器SM70
硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。
【题名】：一种高功率污水BOD/COD快速测量仪【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：
机床是制造业的母机，数控机床是机床产品的先进技术体现，特别是高档数控技术是装备制造业现代化的核心技术，是国家工业发展水平、综合国力的直接体现，此次展会汇集了当今世界机床发展和先进制造技术的最新成果，全面展示了我国数控机床产业近几年来高速发展的最新产品和技术。作为数控技术的重要环节——测量设备，在这次展会上展出了一批新技术、新产品，体现了当今测试计量技术发展动向和特点。 测量精度高随着现代科技向高精度方向发展，机床作为装备工业的基础发展更应超前，而测量设备更由传统的微米、亚微米精度向着纳米量级精度方向发展。随着超精密加工技术的需要，数控精度愈来愈高，对测量设备的精度要求更高，这次展会展示了一批纳米量级的测量设备，除各种激光干涉仪外，光栅测量技术也达到纳米量级。如海德汉的LIP382超高精度直线光栅尺，其测量步距可以达到1nm。基于测量技术的发展，纳米量级的机床成为现实，如上海机床厂展出的纳米级精密微型数控磨床成为展会的一个亮点。测量速度高现代制造业进行的是大规模、大批量、专业化生产，需要多参数、实时在线测量，故要求测试仪器的测量速度高、设备轻便、操作界面直观。如激光干涉测量技术作为精密测量的一种重要方法，各种激光干涉测量系统向着轻巧、便携、高测速的方向发展。雷尼绍XL-80干涉仪款型小巧，可提供4m/s最大的测量速度和50kHz记录速率，可实现1nm的分辨率；激光跟踪仪可实现快速数据采集与处理，有利于测量精度的提高。各种影像测量设备利用触摸屏可以方便直观地实现特征尺寸的测量。三维测量多样化三维测量技术向着高精度、轻型化、现场化的方向发展。传统基于直角坐标的三坐标测量机经过50年的发展，其技术愈加成熟，测量更加快捷，功能更加强大。这次参展的国内外数十家坐标测量机生产厂商，各具特色，特别是国内很多厂家推出实用廉价的各种三坐标测量机，说明三坐标测量技术在我国已经走向全面实用化、特色化发展的道路。除直角坐标测量系统外，极坐标测量仪器体现出自身独特的优势，如FARO、ROMER等厂家生产的激光跟踪仪对大尺寸结构的装备现场具有方便灵活的特点。对于小尺寸测量，FARO、ROMER等生产的关节臂测量机因其低廉的成本、较高的精度、现场方便的操作等优势，在汽车等行业展现出广阔的应用前景。测量智能化测量设备借助于计算机技术向着智能化、虚拟化的方向进一步发展。测量仪器的虚拟化、接口的标准化以及测量软件的模块化，加速了测量技术的发展，使测量仪器的应用更加方便、直观、智能。根据测量需求以及测量对象的不同，可基于同一软件平台使用不同的仪器协同工作，采用不同的测量软件模块，实现了广普测量仪器的网络化、协同化，提高了测量的自动化水平。在这次展会上，国内一些独立的测量软件公司进行了参展，对于测量设备的智能化、网络化具有推动作用。这次展会展示了当今工业测量设备的新技术、新产品。但也同时看到，我国在测量仪器制造特别是高精度仪器制造方面缺乏自主创新的成果，一些高精度测量仪器在国内还没有相关单位能够生产。通过这次展会，对推动我国几何量测量设备的发展具有实际意义。
六价铬单元素溶液标准物质、Cr（Ⅵ）六价铬标准溶液【中文名称】六价铬单元素溶液标准物质、Cr（Ⅵ）六价铬标准溶液【英文名称】StandardSolutionofCr（Ⅵ）【编号】GBW(E)080257【产品规格】棕色安瓿瓶包装，20mL/瓶，液态，基体H2O【标准值（质量浓度）】：100μg/mL【生产单位】中国计量科学研究院【主要用途】皮革六价铬含量检测。【适用标准】国际ISO《ISO17075：2007（DINENISO17075：2008-02；IULTCS/IUC18）皮革六价铬检测》德国《DIN53314-1996[7]皮革的检验.皮革中铬(vi)含量的测定》欧盟《EN420：1994[6]手套总体要求.六价铬》欧盟RoHS指令《IEC62321电子电气产品中限用的六种物质（六价铬）浓度的测定程序》中国《GB/T22807-2008皮革和毛皮化学试验六价铬含量的测定》中国《GB/T17593.3-2006纺织品重金属的测定第3部分：六价铬分光光度法》中国《SN0704-1997出口皮革手套中铬VI的检验方法.分光光度法》中国《GB/T18885-2002生态纺织品技术要求》本标准物质可作为单元素标准储备溶液，通过逐级稀释配置成各种工作用标准溶液，用于测量仪器校准，分析方法确认评价、测量过程质量控制及技术仲裁与认证评价等。一、样品制备本标准物质以重铬酸钾纯度标准物质、三次纯化水（反渗透、离子交换、石英器蒸馏）为原料，在室温为20℃±2℃的洁净室中采用重量法准确配置而成。二、溯源性及定值方法本标准物质以重量法配置值作为浓度标准值，并采用控制电位库仑法进行量值核对，标准物质的量值通过所采用的GBW06105重铬酸钾纯度国家一级标准物质溯源至保存于中国计量科学研究院的基准试剂纯度国家标准，并通过使用满足计量学特性要求的制备、测量方法和计量器具，保证标准物质的量值溯源性。三、特性量值及不确定性度编号名称标准值（μg/ml）相对扩展不确定度（k=2）（%）基体GBW(E)080257Cr（VI）1000.8H2O标准值的不确定度由高纯物质纯度、高纯物质和溶液称量及温度变化引入的不确定度合成。四、均匀性检验及稳定性考察根据国家《一级标准物质》技术
六价铬单元素溶液标准物质、Cr（Ⅵ）六价铬标准溶液【中文名称】六价铬单元素溶液标准物质、Cr（Ⅵ）六价铬标准溶液【英文名称】StandardSolutionofCr（Ⅵ）【编号】GBW(E)080257【产品规格】棕色安瓿瓶包装，20mL/瓶，液态，基体H2O【标准值（质量浓度）】：100μg/mL【生产单位】中国计量科学研究院【主要用途】皮革六价铬含量检测。【适用标准】国际ISO《ISO17075：2007（DINENISO17075：2008-02；IULTCS/IUC18）皮革六价铬检测》德国《DIN53314-1996[7]皮革的检验.皮革中铬(vi)含量的测定》欧盟《EN420：1994[6]手套总体要求.六价铬》欧盟RoHS指令《IEC62321电子电气产品中限用的六种物质（六价铬）浓度的测定程序》中国《GB/T22807-2008皮革和毛皮化学试验六价铬含量的测定》中国《GB/T17593.3-2006纺织品重金属的测定第3部分：六价铬分光光度法》中国《SN0704-1997出口皮革手套中铬VI的检验方法.分光光度法》中国《GB/T18885-2002生态纺织品技术要求》本标准物质可作为单元素标准储备溶液，通过逐级稀释配置成各种工作用标准溶液，用于测量仪器校准，分析方法确认评价、测量过程质量控制及技术仲裁与认证评价等。一、样品制备本标准物质以重铬酸钾纯度标准物质、三次纯化水（反渗透、离子交换、石英器蒸馏）为原料，在室温为20℃±2℃的洁净室中采用重量法准确配置而成。二、溯源性及定值方法本标准物质以重量法配置值作为浓度标准值，并采用控制电位库仑法进行量值核对，标准物质的量值通过所采用的GBW06105重铬酸钾纯度国家一级标准物质溯源至保存于中国计量科学研究院的基准试剂纯度国家标准，并通过使用满足计量学特性要求的制备、测量方法和计量器具，保证标准物质的量值溯源性。三、特性量值及不确定性度编号名称标准值（μg/ml）相对扩展不确定度（k=2）（%）基体GBW(E)080257Cr（VI）1000.8H2O标准值的不确定度由高纯物质纯度、高纯物质和溶液称量及温度变化引入的不确定度合成。四、均匀性检验及稳定性考察根据国家《一级标准物质》技术
用于稳定性测量仪的硅油（50mL)订货号:6.2326.000硅油用来测定稳定性测量仪中的温度系数DeltaT容量：50mlJ9九游会 - 真人游戏第一品牌J9九游会 - 真人游戏第一品牌
